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慕尼黑華南電子展開幕，科瑞技術AI缺陷檢測亮相高峰論壇
2020.11.09


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11月3日，慕尼黑華南電子展開幕，在展會同期舉辦的“智能制造與自動化專題論壇”上，科瑞技術和多家知名企業(yè)一起，圍繞智能制造轉型升級的難點痛點，分享了行業(yè)洞察和解決方案。


  科瑞技術參會代表以《結合運動控制的AI缺陷檢測技術及在手機中框檢測中的應用》為題進行分享，受到業(yè)內關注。

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科瑞技術代表現(xiàn)場分享


  RevEye AOI 360手機中框檢測產品，集成了測量定位、缺陷檢測、高頻同步觸發(fā)、多軸軌跡控制等多種精密自動化技術，可廣泛用于各類移動終端產品的中框外觀缺陷檢測，是科瑞技術融合運動控制和人工智能技術，傾力開發(fā)的視覺缺陷檢測平臺。


  該產品應用等距線掃軌跡規(guī)劃技術，通過360度掃描整個手機中框，實現(xiàn)對運動中框表面的一次性清晰成像，成像精度達到微米級，并通過優(yōu)化現(xiàn)有深度學習模型，自主開發(fā)出全新的缺陷識別算法，高速、精準地實現(xiàn)對缺陷的定位識別，對圖像的分割和對缺陷區(qū)域尺寸的測量。


  慕尼黑華南電子展總規(guī)模達到40,000平方米，與中國（深圳）機器視覺展暨機器視覺技術及工業(yè)應用研討會、慕尼黑華南電子生產設備展、華南先進激光及加工應用技術展覽會、華南電路板國際貿易采購博覽會等聯(lián)合同期開展，從研發(fā)、制造到應用，展示電子行業(yè)產業(yè)鏈上下游前沿技術，助力加速行業(yè)創(chuàng)新升級。